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基地場域
1F半導體封裝及廠務類產線
5半導體封裝及廠務類產線-5
5半導體封裝及廠務類產線-5
半導體封裝及廠務類產線-1
半導體封裝及廠務類產線-1
半導體封裝及廠務類產線-2
半導體封裝及廠務類產線-2
半導體封裝及廠務類產線-3
半導體封裝及廠務類產線-3
半導體封裝及廠務類產線-4
半導體封裝及廠務類產線-4
半導體封裝及廠務類產線-6
半導體封裝及廠務類產線-6
半導體封裝及廠務類產線-7
半導體封裝及廠務類產線-7
2F半導體設備類產線
半導體設備類產線-1
半導體設備類產線-1
半導體設備類產線-光學微影區-2
半導體設備類產線-光學微影區-2
半導體設備類產線-光學微影區-3
半導體設備類產線-光學微影區-3
半導體設備類產線-光學微影區-4
半導體設備類產線-光學微影區-4
半導體設備類產線-光學微影區-5
半導體設備類產線-光學微影區-5
半導體設備類產線-薄膜製程區-6
半導體設備類產線-薄膜製程區-6
半導體設備類產線-薄膜製程區-7
半導體設備類產線-薄膜製程區-7
3F半導體檢測類產線
半導體檢測類產線-1
半導體檢測類產線-1
半導體檢測類產線-2
半導體檢測類產線-2
半導體檢測類產線-3
半導體檢測類產線-3
半導體檢測類產線-4
半導體檢測類產線-4
半導體檢測類產線-5
半導體檢測類產線-5
半導體檢測類產線-6
半導體檢測類產線-6
半導體檢測類產線-7
半導體檢測類產線-7
半導體檢測類產線-8
半導體檢測類產線-8
半導體檢測類產線-9
半導體檢測類產線-9
4F半導體測試類產線
半導體測試類產線-1
半導體測試類產線-1
半導體測試類產線-2
半導體測試類產線-2
半導體測試類產線-3
半導體測試類產線-3
半導體測試類產線-4
半導體測試類產線-4
半導體測試類產線-5
半導體測試類產線-5